什么是晶粒度测试
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检测对象晶粒度 检测类型晶粒度测试

晶粒度（grain size）是表示晶粒大小的尺度。常用的表示方法有单位体积的晶粒数目（ZV），单位面积内的晶粒数目（ZS）或晶粒的平均线长度（或直径）。

简介

表示晶粒大小的尺度叫晶粒度，常用单位体积（或单位面积）内的晶粒数目或晶粒的平均线长度（或直径）表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分12级，1～4级为粗晶粒，5～8级为细晶粒，9～12级为**细晶粒度。
金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小。晶核的数目用形核率表示。形核率越大，单位体积中晶核的数目越多，晶粒越细小。长大速度越小，长大过程中形成的晶核批次越多，晶核数目越多，因而晶粒越细小。反之，形核率越小而长大速度越大，则晶粒越粗大。因此晶粒度的大小取决于形核率N和长大速率G之比，比值芸N/G越大，晶粒越细小。
单位体积中的晶粒数目ZV为
ZV=0.9（N/G）3/4
单位面积中的晶粒数目ZS为
ZS=1.1（N/G）1/2
由此可见，可以通过促进形核而抑制长大的措施细化晶粒，反之，抑制形核而促进长大的方法可以粗化晶粒。


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